LD-PD
LD-PD kann Wellenlängen-Screening auf COC-Chips auf Basis der Laser-Technologie durchführen und liefert Photonenchips mit einer Toleranz von besser als ± 1 nm. LD-PD verfügt über ein Nahinfrarot-Hochgeschwindigkeits-Erfassungswellenlängenmessgerät und ein FTIR-Fourier-Spektrometer im mittleren Infrarotbereich für eine strenge Abschirmung aller Wellenlängen.
Produktportfolio
- Verteilter Bragg-Reflektorlaser
- Verteilter Feedback-Laser
- Fabry-Perot-Laser
- Superlum-Laserdiode
- VCSEL-Laserdiode
- Externer Hohlraumlaser
- InGaAs-, Ge- und Si-Fotodiode
- InGaAs- und Si-Einzelphotonen-Avalanche-Dioden (SPADs)
- InGaAs-Linear- und 2D-Array-Detektor
- InGaAs-Mikrowellenempfänger
- Si-Quadrat-Fotodioden
- DFB- und FP-Lichtquelle
- Norrow-Linienbreiten-Lasermodul
- Drehbare Laserquellen
- InGaAs/Si PD-, APD-, BPD- und BAPD-Modul
- TDLAS-Instrument
- DFB, FB, SLD, SOA und Gain Chip
Anwendungen:
TDLAS (Tunable diode laser absorption spectroscopy)
Das laserbasierende kontaktlose optische Verfahren zur Detektion und Konzentrationsbestimmung von Verunreinigungen in Prozessgasströmen erhöht die Sicherheit und Effizienz Ihrer Anlage
Gassensor, Quantencomputing; Spektroskopie; Biowissenschaften Faserkommunikation; Atomeinfang und -kühlung